Flächensensoren auf CCD- oder CMOS-Basis sind das Herzstück vieler hochpräziser Bildverarbeitungssysteme. Doch das werkseitig verbaute Deckglas kann die Leistungsfähigkeit des Sensors in bestimmten Anwendungen erheblich einschränken. Durch unsere spezialisierte Deckglasentfernung optimieren wir die optischen Eigenschaften des Sensors und ermöglichen eine höhere Lichtempfindlichkeit, verbesserte spektrale Transmission und minimierte Reflexionen – essenziell für Forschung, Industrie und Wissenschaft.

Warum die Deckglasentfernung bei Flächensensoren?

Das Deckglas dient ursprünglich als Schutzschicht für den Sensor. Doch in vielen Anwendungen kann es unerwünschte Interferenzen, Reflexionen oder spektrale Einschränkungen verursachen. Insbesondere in Bereichen, in denen eine maximale Quanteneffizienz, höchste Kontrast-Treue oder eine exakte spektrale Erfassung erforderlich ist, bringt ein Sensor ohne Deckglas klare Vorteile:

Erhöhte Lichtempfindlichkeit

Das Entfernen des Deckglases sorgt für eine direktere Photonendetektion, wodurch mehr Licht auf die Sensorpixel trifft und die Signalstärke erhöht wird.

Optimierte spektrale Transmission

Besonders im UV- und SWIR-Bereich verbessert sich die Transmission, da keine Absorption oder Brechung durch das Deckglas mehr auftritt.

Keine störenden Reflexionen oder Interferenzen

Gerade bei hochpräzisen Messungen, etwa in der astronomischen Bildgebung oder der Fluoreszenzmikroskopie, kann die Reduktion von Reflexionen das Signal-Rausch-Verhältnis erheblich steigern.

Direkte Anpassung von Spezialfiltern

Ohne Deckglas können kundenspezifische Filter direkt auf dem Sensor platziert werden, um beispielsweise bestimmte Wellenlängenbereiche gezielt zu blockieren oder zu verstärken.

Eureca bietet neben der Deckglasentfernung auch das Aufsetzen von Filtern als Dienstleistung an. Weiterhin kann auf einen entfensterten Sensor auch eine UV-Beschichtung aufgebracht werden, um so den spektralen Bereich zu erweitern.

Typische Anwendungsgebiete für Flächensensoren ohne Deckglas

Astronomie & Spektroskopie

Maximale Empfindlichkeit im UV- und NIR-Bereich für hochpräzise Aufnahmen von Himmelskörpern oder spektrale Analysen.

Wissenschaftliche Bildgebung & Mikroskopie

Verbesserung der Detektion von Fluoreszenzsignalen oder extrem schwacher Lichtquellen.

Industrielle Inspektion & Qualitätskontrolle

Höhere Kontraste und detailliertere Defekterkennung in Halbleiterprozessen, Medizintechnik oder Materialprüfung.

Hyperspektrale Bildgebung

Optimierung der Sensorcharakteristik für multispektrale oder hyperspektrale Anwendungen durch Entfernung spektraler Artefakte.

Präzise und rückstandsfreie Entfernung des Deckglases

Unsere kontrollierte Entfernungsmethode garantiert, dass das Deckglas ohne mechanische oder thermische Belastung vom Sensor entfernt wird. Dadurch bleibt die Pixelstruktur unverändert und die volle Leistung des Sensors bleibt erhalten.

• alle Sensoren der ICX-Serie von Sony (z. B. ICX285AL)
• Sensoren der IMX-Serie von Sony
  • Pregius und STARVIS Generationen, die neueste Pregius S Generation eingeschlossen (z. B. IMX174, IMX250, IMX304, IMX421, IMX540)
  • neueste InGaAs Generation (z. B. IMX990)
• OnSemi: CMV4000, Python1300/5000, AR0521
• e2V: EV76C570, EV76C560ABT
• SiOnyx: XQE-0920, XQE-1310
• GPixel: Gsense2020, GMAX3265

Besteht Interesse an einer individuellen Lösung? Kontaktieren Sie uns für eine persönliche Beratung zur Deckglasentfernung und Sensoroptimierung!

Setzten Sie statt Flächensensoren CCD/CMOS-Linearsensoren oder SWIR-Detektoren ein? Auch hierfür haben wir passende Verfahren für eine Deckglasentfernung im Programm.