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Deckglasentfernung für Sony SWIR-Sensoren

Maximale Performance für anspruchsvolle Anwendungen

Wir freuen uns bekannt zu geben, dass unsere professionelle Deckglasentfernung für Bildsensoren nun auch für die Sony SWIR-Sensoren IMX990 und IMX991 verfügbar ist! Damit bieten wir eine maßgeschneiderte Lösung für Anwendungen, die höchste Präzision und uneingeschränkte Empfindlichkeit im VIS- und SWIR-Bereich (400 – 1700 nm) erfordern.

Warum ein SWIR-Sensor ohne Deckglas?

Viele Anwendungen im SWIR-Bereich profitieren von einem sensorseitig entfernten Deckglas, da dies

  • Störeinflüsse durch Reflexionen und Interferenzen reduziert,
  • Geisterbilder und Kontrastverluste vermeidet,
  • direkten Zugang zur Sensoroberfläche für maßgeschneiderte Beschichtungen oder Mikrolinsenarrays ermöglicht,
  • spektrale Transmission verbessert, insbesondere für Spezialanwendungen mit Filtern oder individuellen Optiken.

Optimale Lösung für anspruchsvolle Anwendungen

Durch die Entfernung des Deckglases wird die Leistung von SWIR-Sensoren in folgenden Bereichen optimiert:

Halbleiterinspektion
Verbesserte Erkennung feiner Strukturen auf Silizium-Wafern
Medizinische Bildgebung
Maximale Transmission für präzisere nicht-invasive Diagnostik
Pharma & Lebensmittelindustrie
Direkte Analyse von Inhaltsstoffen durch optimierte spektrale Empfindlichkeit
Sicherheits- & Überwachungstechnik
Minimierung von Streulicht für höhere Bildqualität bei schlechten Sichtverhältnissen
Forschung & Entwicklung
Maximale Flexibilität für individuelle optische Anpassungen

Unsere Deckglasentfernung sorgt dafür, dass Ihr Sensor die bestmögliche Leistung in Ihrer spezifischen Anwendung erzielt.

Möchten Sie mehr erfahren? Kontaktieren Sie uns für Details oder individuelle Anpassungen!


SWIR-Sensoren IMX990 und IMX991

Die SWIR-Sensoren IMX990 und IMX991 von Sony basieren auf der SenSWIR-Technologie und werden für eine Vielzahl anspruchsvoller Anwendungen eingesetzt. Ihre Besonderheit liegt darin, dass sie sowohl im sichtbaren Bereich (VIS) als auch im kurzwelligen Infrarotbereich (SWIR, 400 – 1700 nm) empfindlich sind.

Typische Einsatzbereiche

  1. Industrielle Inspektion & Qualitätskontrolle
    • Erkennung von Verunreinigungen, Kratzern oder Materialunterschieden auf Halbleiter-Wafern, Glas oder Kunststoffen
    • Prüfung von Wasser- oder Feuchtigkeitsverteilung in Materialien (z. B. in der Lebensmittel- oder Pharmaindustrie)
  2. Halbleiter- und Solarzellenprüfung
    • Inspektion von Silizium-Wafern (Silizium wird erst ab 1100 nm durchlässig, wodurch sich innere Strukturen sichtbar machen lassen)
    • Qualitätskontrolle bei Solarzellen durch die Analyse von Defekten oder Rissen
  3. Pharma- und Lebensmittelanalyse
    • Identifikation von Inhaltsstoffen durch spektrale Absorptionsunterschiede (z. B. Wasser, Fett, Zucker)
    • Überprüfung der Tablettenbeschichtung oder Unterscheidung von Verpackungsmaterialien
  4. Sicherheits- und Überwachungstechnik
    • Befähigung durch Nebel oder Rauch zu sehen (bessere Durchdringung als sichtbares Licht)
    • Erkennung von gefälschten Dokumenten oder Banknoten, da viele Druckfarben im SWIR-Bereich unterschiedlich absorbieren
  5. Medizinische und biologische Bildgebung
    • Durchleuchtung von Gewebe für nicht-invasive Diagnostik
    • Detektion von Venen und Blutgefäßen für medizinische Anwendungen
  6. Agrar- und Umweltmonitoring
    • Beurteilung der Pflanzengesundheit durch Analyse von Chlorophyll- und Wassergehalt
    • Erkennung von Verunreinigungen oder Fremdkörpern in landwirtschaftlichen Produkten

Die Sensoren sind besonders interessant, da sie mit der CMOS-Technologie arbeiten, was sie kompakter, energieeffizienter und kostengünstiger als klassische InGaAs-Sensoren macht.


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Aktualisiert am: 04.03.2025